- 新品推薦
- 靜電系列
- 脈沖發(fā)生器
-
功能材料系列
-
紅外光纖激光測(cè)振儀
-
高溫介電溫譜測(cè)試儀
-
儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系...
-
熱釋電系數(shù)測(cè)試儀
-
高低溫冷熱臺(tái)
-
50點(diǎn)耐壓測(cè)試系統(tǒng)
-
閉孔溫度破膜溫度測(cè)試儀
-
鋰離子電池隔膜電弱點(diǎn)測(cè)試...
-
多通道介電/電阻測(cè)試模塊
-
壓電系數(shù)測(cè)試儀
-
探針臺(tái)
-
高壓薄膜極化裝置
-
功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)
-
阻抗分析儀
-
電介質(zhì)充放電系統(tǒng)
-
半導(dǎo)體封裝材料TSDC測(cè)...
-
高溫絕緣電阻測(cè)試儀
-
鐵電測(cè)試系統(tǒng)
-
鐵電分析儀
-
紅外光纖激光測(cè)振儀
- 功率放大器系列
- 功能材料試驗(yàn)設(shè)備
-
工程塑料絕緣材料系列
-
絕緣材料測(cè)試儀器
-
高頻高壓絕緣電阻、介電測(cè)...
-
塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀
-
介質(zhì)損耗分析系統(tǒng)
-
傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng)
-
絕緣電阻劣化(離子遷移)...
-
變溫極化耐擊穿測(cè)試儀(高...
-
電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)
-
耐壓絕緣測(cè)試儀
-
空間電荷測(cè)量系統(tǒng)
-
表面、體積電阻率測(cè)試儀(...
-
耐電弧試驗(yàn)儀
-
電壓擊穿試驗(yàn)儀
-
工頻介電常數(shù)測(cè)試儀
-
低壓漏電起痕試驗(yàn)儀
-
半導(dǎo)體封裝材料TSDC測(cè)...
-
絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)
-
長期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)
-
絕緣診斷測(cè)試系統(tǒng)
-
導(dǎo)電與防靜電體積電阻率測(cè)...
-
絕緣材料測(cè)試儀器
- 儲(chǔ)能科學(xué)與工程試驗(yàn)設(shè)備
- 附件及配件
產(chǎn)品詳情
簡單介紹:
華測(cè)儀器生產(chǎn)的紅外光纖測(cè)振儀采用緊湊光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì),集光學(xué)測(cè)試技術(shù)和數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)與一體。以集成光學(xué)芯片為核心,具有體積小、質(zhì)量輕、易維護(hù)等優(yōu)點(diǎn);具有高分辨率和動(dòng)態(tài)測(cè)量范圍,設(shè)備安裝簡單快捷,配合鐵電分析儀進(jìn)行應(yīng)變測(cè)量。
詳情介紹:
紅外光纖激光測(cè)振儀光學(xué)芯片
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
1.非接觸式測(cè)量
2.不受環(huán)境及材質(zhì)顏色影響
3.小型化、集成化抗干擾能力強(qiáng)
4.同軸收發(fā)無測(cè)量死角
產(chǎn)品參數(shù)
1.指示激光波長:636 nm
2.測(cè)量激光波長:1550 nm
3.激光功率:P636 nm < 1 mW,P1550 nm < 10 mW
4.光纖激光頭:長度:< 177 mm直徑:< 35 mm
5.工作距離:0.35 m ~ 10 m
6.小信號(hào):10 kHz
7.激光光斑尺寸(1/e2):@0.35 m 22μm
@2 m 141μm
@5 m 357μm
@10 m 714μm
8.速度分辨率:好于0.01μm/s/√Hz
9.位移分辨率:好于1 pm
10.采樣率:不低于15360000
應(yīng)用領(lǐng)域
1.超聲領(lǐng)域
2.新能源領(lǐng)域
3.工業(yè)在線測(cè)量